GEWTEC LTD.
上海晰微光電技術有限公司
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雙軸線性標度測微尺
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本線標測微尺可同時精確校準機器視覺系統的X軸和Y軸，校準時無需旋轉，無需補償相機寬高比例。本品有兩組刻線，公制刻線（25微米一小格）和英制刻線（0.001英寸一小格）。測微尺材料可選玻璃鍍鉻或乳白玻璃鍍鉻。
可選新款的毛玻璃基底版
雙軸設計
英制和公制
可選通過NIST認證的版本
產品
| 標題 | 產品編碼 | 基底 | 分刻度 | 尺寸 (mm) | 表面質量 | 厚度 (mm) | 尺寸容差 (mm) | NIST Certification |
| 雙軸線性標度測微尺 | 58-608 | Chrome on Glass | Metric: 25μm English: 1 mil (0.001") | 25.4 x 76.2 | 60-40 | 1.50 ±0.100 | ±0.100 | No |
| 乳色玻璃基底的雙軸向線性標度尺測微計 | 58-763 | Chrome on Opal Glass | Metric: 25μm English: 1 mil (0.001") | 25.4 x 76.2 | 1.50 ±0.100 | ±0.100 | No | |
| 雙軸線性標度測微尺，帶NIST證書 | 59-276 | Chrome on Glass | Metric: 25μm English: 1 mil (0.001") | 25.4 x 76.2 | 60-40 | 1.50 ±0.100 | ±0.100 | Yes |
| 乳色玻璃基底的雙軸線性標度測微尺，帶NIST證書 | 59-277 | Chrome on Opal Glass | Metric: 25μm English: 1 mil (0.001") | 25.4 x 76.2 | 1.50 ±0.100 | ±0.100 | Yes |
技術數據
